Chroma Model 19501-k 局部放電測試儀，Chroma 19501-K 局部放電測試儀單機內置交流耐壓測試（Hipot Test）與局部放電（Partial Discharge, PD）檢測功能，可提供 0.1kV~10kV 交流電壓輸出，漏電流測量范圍為 0.01µA~300µA?，F在熱賣中，如需購買，可通過ai1718的客服熱線聯系我們！

Chroma Model 19501-k 局部放電測試儀介紹

Chroma 19501-K 局部放電測試儀單機內置交流耐壓測試（Hipot Test）與局部放電（Partial Discharge, PD）檢測功能，可提供 0.1kV~10kV 交流電壓輸出，漏電流測量范圍為 0.01µA~300µA，局部放電檢測范圍為 1pC~2000pC，專為高壓半導體元件與高絕緣材料的測試應用而設計開發。
該產品設計符合 IEC60270-1 標準，針對高壓試驗技術中對局部放電測試的要求，采用窄頻濾波器（Narrowband）測量技術進行局部放電量檢測，并將測量結果以直觀的數值（pC）顯示在屏幕上，方便用戶清晰了解待測物的測試判定結果。
在產品設計上，除符合 IEC60270-1 標準外，還滿足光耦合器 IEC60747-5-5 及 VDE0884 標準要求，儀器內部內置 IEC60747-5-5 標準規定的測試方法，能滿足光耦合器產品生產測試需求，并為用戶提供便捷的操作界面。
在生產線上執行高壓測試時，若待測物未能正確、良好地連接測試線，將導致測試結果失敗，甚至存在漏測風險。因此，測試前確保待測物與測試線的良好連接至關重要。Chroma 獨特的高壓接觸檢查功能（High Voltage Contact Check: HVCC）采用開爾文（Kelvin）測試方法，針對高絕緣能力的元件，在高壓輸出的同時同步進行接觸檢查，提升測試有效性與生產效率。
當固體絕緣物中存在氣隙或絕緣層內混合雜質時，在額定工作高壓狀態下，由于氣隙處電場強度較高，會產生局部放電（Partial Discharge）。持續性的局部放電會長期劣化周圍絕緣材料，影響電氣產品的長期可靠性，進而引發安全事故。
應用于電源系統的安規元件（如光耦合器），若元件長期發生局部放電，會破壞絕緣材料，導致絕緣失效，進而引發用戶人身安全問題。因此，IEC60747-5-5 標準中規定，在生產過程中（例行測試）必須 100% 執行局部放電（Partial Discharge）檢測，在zui大絕緣電壓條件下，放電量不得超過 5pC，以確保產品在正常工作環境中不會發生局部放電現象。
局部放電測試儀主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受能力的元件，提供高壓耐壓測試與局部放電檢測，保障產品質量并提升產品可靠性。

19501-K 局部放電測試儀特點
單機內置交流耐壓測試與局部放電檢測功能
可編程交流耐壓輸出：0.1kVac~10kVac
高精度及高分辨率電流表：0.01µA~300µA
局部放電（PD）檢測范圍：1pC~2000pC
高壓接觸檢查功能（HVCC）
符合 IEC60747-5-5、VDE0884、IEC60270 標準測試要求
內置 IEC60747-5-5 測試方法
測量與顯示單元分離式設計
三段電壓測試功能
局部放電（PD）測量結果數值顯示（pC）
局部放電（PD）不良發生次數判定設定（1~10）
多語言操作界面（繁體中文 / 簡體中文 / 英文）
USB 畫面抓取功能
圖形化輔助編輯功能
標準 LAN、USB、RS232 遠程控制接口

局部放電（Partial Discharge）釋義
局部放電指在絕緣物體的局部區域發生放電，且未在兩電極間形成固定放電通道的放電現象。
局部放電測試儀向待測物施加特定條件的電壓，測量其視在放電電荷量（PD），既驗證待測物承受瞬間高壓（耐壓測試）的能力，也驗證其在額定工作電壓下的絕緣完整性。局部放電測試能夠檢測待測物是否存在異常氣隙，通過施加略高于元件zui高額定工作電壓的局部放電電荷測試，檢驗電氣元件在正常工作電壓條件下的長期可靠性。但在實際生產中，絕緣材料內部不可能wanquan不存在氣隙，因此 IEC60747-5-5 光耦合器標準針對局部放電測試，規定其放電電荷量不得大于（q???=5pC）。
絕緣固體中因氣泡產生局部放電的說明
空氣的介電系數低于絕緣材料的介電系數，因此氣泡處的電場強度會大于正常絕緣時的分壓。
空氣可承受的電場強度低于絕緣材料，容易在氣泡處產生氣泡放電（Void Discharge）。
其中，Ca 為絕緣介質其余部分的等效電容；Cc 為氣隙等效電容；Cb 為絕緣介質與氣隙串聯部分的等效電容。

局部放電測試儀校正
局部放電測試設備用于測量和判定微小放電量，其信號極其微弱且快速，因此局部放電測量設備必須經過精確校正，才能確保局部放電發生時，高頻放電信號能夠被準確測量。校正器上使用的標準電容 C?通常為低壓電容器，執行局部放電（PD）校正時，局部放電測試儀需在不帶電狀態下進行，針對局部放電（PD）放電量 q?=V?C?（如圖所示）。
圖中各參數說明：U 為工作電壓；Z 為隔離阻抗容量；Ca 為待測物；Ck 為耦合電容；Zm 為測量系統的輸入阻抗；CD 為耦合裝置；Cc 為測試線；MI 為局部放電測試測量裝置；PG 為直角波產生器；V?為直角波電壓。

高精度測量
Chroma 19501-K 具備高精度的局部放電測量功能，設有兩個測量檔位，分別為 200pC 和 2000pC 檔位，測量范圍為 1pC~2000pC。在 200pC 檔位下，最佳分辨率為 0.1pC。高精度的測量能力及直觀的測量結果顯示，有助于對高絕緣物體進行微小放電量的判定與分析。

抗干擾結構設計
局部放電測試儀配備窄頻域濾波器，用于測量被測元器件的微小放電量。然而，測試儀器在工廠環境中的使用與實驗室環境不同，工廠環境中的干擾因素相對較多，可能包括現場自動化機械運轉、馬達啟動或其他高頻輻射干擾。因此，在生產線上使用時，環境噪聲干擾會增加，進而影響局部放電（PD）的測量與判定。如何降低并避免局部放電設備的測量回路受到高頻輻射干擾，是生產業者與自動化設備商面臨的一大難題。
局部放電發生時，放電反應速度極快（通常為納秒級），屬于高頻放電且信號極其微弱，因此容易受到周圍高頻輻射干擾，導致測量誤差，增加測量系統的不確定因素。如何在精確測量局部放電（PD）放電量的同時，避免受到這些高頻輻射干擾，是局部放電儀器設計技術中的一大挑戰。
Chroma 19501-K 局部放電測試儀充分考慮到設備使用環境中可能存在的不可避免的高頻輻射干擾，因此在產品設計架構上采用測量與顯示單元分離式設計，將測量模塊外移，以zui接近待測物的方式進行測量，減少因測試線過長而容易受到周圍環境高頻輻射干擾的情況。同時，在測量線路設計上采用信號隔離方式，測試端以最短回路方式使用探針出線，并在低壓回路端采用銅環隔離環境輻射干擾，避免局部放電（PD）測量回路受到外部噪聲干擾，確保測量精度。

產品應用
光耦合器標準應用
IEC60747-5-5 標準中，已明確規定光耦合器相關的電氣安全要求、安全試驗及測試方法等內容，為光耦合器元件提供了安全應用的指導性準則。Chroma 19501-K 局部放電測試儀符合該標準對電氣安全測試的要求及測試方法。標準中規定，光耦合器在生產過程中必須 100% 執行局部放電測試（Partial Discharge Test），并明確了局部放電測試電壓要求，供生產業者參考。生產測試時，局部放電測試電壓定義為：以 1.875 倍常數乘以標稱的zui高絕緣工作電壓或重復發生的zui大絕緣峰值電壓（取兩者中的較高值），作為局部放電測試電壓，其電壓計算公式參考如下：
V?d = F×V??wm（若 V??wm>V????）
其中，F 為加嚴常數（常態測試 F=1.875；樣品測試 F=1.6；耐久性后測試 F=1.2）；V??wm 為zui高絕緣工作電壓；V????為重復發生的zui大絕緣峰值電壓。

符合 IEC 60747-5-5 與 VDE 0884 標準測試
Chroma 19501-K 產品針對光耦合器產業應用，內置 IEC60747-5-5 標準中要求的測試方法（b1）、方法（b2）與方法（b3）等三個測試模式，并以圖形顯示輔助用戶進行程序編輯設定，幫助用戶快速學習并便捷操作儀器，提升操作人員的使用效率。

三段電壓測試
除滿足光耦合器標準測試要求外，針對部分生產廠商在生產工藝中需要額外以高于標準的測試電壓執行絕緣耐壓測試并加入局部放電（PD）放電量檢測，以提升元件質量及工廠內部加嚴品質管控的需求，Chroma 19501-K 獨特的三段電壓測試功能，新增第三階段品質管控測試電壓，可同時滿足標準要求與生產質量管控的目的。（注：加嚴檢測后，生產業者仍需將測試電壓降至標準規范的測試電壓（V?d）再執行檢測，確保產品符合標準要求。）

局部放電（PD）不良發生次數判定設定
局部放電測試儀在元件絕緣品質檢測中，必須能夠精確測量到元件的微小放電量。當局部放電（PD）發生時，其信號極其微弱，且容易受到環境中高頻輻射干擾而造成測量偏差。因此，為降低生產過程中因外部干擾而產生的誤判行為，Chroma 19501-K 局部放電測試儀允許用戶設定局部放電（PD）不良發生次數的判定條件，確保局部放電測試儀測量到的放電量來自待測物，而非受到周圍環境的一次性干擾。
當局部放電測試儀向固體絕緣施加高壓時，絕緣固體中的空隙放電量會隨著電壓變化而發生周期性放電，因此放電量相較于環境中的高頻噪聲是相對穩定且持續發生的。故 19501-K 設計為：放電量必須累計在連續 4 個電壓半波周期內至少發生一次，且超過zui大放電量，才會計數一次；若判定次數未連續發生，則局部放電（PD）不良發生次數判定將歸零并重新計數，直至連續發生次數超過用戶設定的次數，測試結果才判定為不良。

條件成立：在每個電壓半波周期均發生局部放電（PD）放電；或在連續 4 個半波周期內發生第二次局部放電（PD）放電（zui大放電量≤5pC）。
條件不成立：在連續 4 個半波周期內未發生第二次局部放電（PD）放電（zui大放電量≤5pC）。

高壓接觸檢查功能（HVCC）
針對高絕緣能力的元件，在高壓輸出時進行接觸檢查至關重要。Chroma 獨特的高壓接觸檢查功能（High Voltage Contact Check: HVCC）采用開爾文（Kelvin）測試方法，針對高絕緣能力的元件，在高壓輸出的同時同步進行接觸檢查，以提升測試可靠性與生產效率。

訂購信息

19501-K：局部放電測試儀
A195001：局部放電（PD）校正器
B195000：電磁遮蔽罩
B195001：高壓連接轉接座
B195002：DIP 測試治具

Model 19501-k 局部放電測試器規格

備注

*1：電流精度僅適用于容性負載。*2：局部放電（PD）測量使用符合 IEC60270 標準的校正脈沖發生器進行驗證，測量精度規格定義為校正發生器的相對誤差。*3：若接觸電阻 > 10kΩ，判定為開路；反之，若接觸電阻 < 100Ω，判定為合格。

• 規格如有變更，恕不另行通知。